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Schichtdickenmessung

Bei diesem Verfahren wird eine Querschnittsprobe des zu prüfenden Werkstücks entnommen, in Harz eingebettet und anschliessend geschliffen und poliert. Die Schichten oder Beschichtungen werden dann mit einem optischen Mikroskop oder einem Rasterelektronenmikroskop (REM) visuell untersucht.

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Anwendung
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Die mikroskopische Schichtdickenmessung dient zur Bestimmung der Dicke von metallischen oder nichtmetallischen Beschichtungen auf einem Grundwerkstoff. Das Verfahren wird insbesondere eingesetzt, wenn eine genaue Bestimmung der Schichtdicke erforderlich ist oder andere zerstörungsfreie Messverfahren nicht geeignet sind. Die Untersuchung kann zur Qualitätskontrolle, zur Überprüfung von Beschichtungsvorgaben sowie zur Beurteilung von Fertigungs- und Beschichtungsprozessen verwendet werden. Das mikroskopische Verfahren erfolgt gemäß DIN EN ISO 1463.

Durchführung

Für die Messung wird eine Querschnittsprobe aus dem zu untersuchenden Bauteil entnommen. Die Probe wird in Harz eingebettet und anschliessend sorgfältig geschliffen und poliert, sodass der Querschnitt der Beschichtung sichtbar wird. Danach wird die vorbereitete Oberfläche mit einem optischen Mikroskop  oder einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht. Die Schichtdicke wird anhand des sichtbaren Querschnitts der Beschichtung bestimmt. Bei mehreren übereinanderliegenden Schichten können die einzelnen Schichtdicken separat ermittelt werden. Da eine Probe aus dem Bauteil entnommen und präpariert werden muss, handelt es sich beim klassischen mikroskopischen Verfahren um ein zerstörendes Prüfverfahren.

Nachweise

Als Nachweis dienen insbesondere Prüfprotokolle, Messwerte und mikroskopische Aufnahmen des untersuchten Querschnitts. Im Prüfbericht werden unter anderem das untersuchte Bauteil, der Werkstoff, die Beschichtung, die Messstelle und die ermittelte Schichtdicke dokumentiert. Die Ergebnisse können mit den geforderten Schichtdicken aus technischen Zeichnungen, Spezifikationen, Normen oder Kundenanforderungen verglichen werden. Die mikroskopischen Aufnahmen können zusätzlich als dokumentierter Nachweis der gemessenen Schichtdicke verwendet werden.

Werkstoffe

Das Verfahren eignet sich für beschichtete metallische Werkstoffe und Bauteile mit unterschiedlichen Beschichtungssystemen. Typische Grundwerkstoffe sind:

  • Stahl und Edelstahl
  • Aluminium und aluminiumlegierungen
  • Kupfer und Kupferlegierungen
  • Gusseisen
  • Nickellegierungen

Je nach Anwendung können beispielsweise galvanische, chemische oder thermische Beschichtungen untersucht werden.

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Bauteiltypen

Die Schichtdickenmessung kann an verschiedenen beschichteten Bauteilgruppen eingesetzt werden. Typische Beispiele sind:

  • Rohre und Rohrleitungskomponenten
  • Bleche und Profile
  • Schweisskonstruktionen
  • Maschinen- und Anlagebauteile
  • Schrauben und Verbindungselemente
  • Zahnräder und Wellen
  • Guss- und Schmiedteile
  • Bechälter und Druckbehälter
  • Armaturen und Flansche

Die Auswahl der Messstelle erfolgt abhängig von der Prüfaufgabe und den Anforderungen an die Beschichtung.

Normen & Regelwerke

DIN EN ISO 1463

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Akkreditierung

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Jérôme Heyberger

Prüfprozesse & Metallographie

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