Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist ein hochauflösendes Verfahren zur Abbildung von Oberflächen und Bruchflächen fester Werkstoffe. Damit können Mikrostrukturen detailliert analysiert und Vergrößerungen von bis zu 10'000-fach erreicht werden. Ergänzend ermöglicht die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) eine Mikro-Elementanalyse zur Bestimmung der qualitativen und quantitativen Elementzusammensetzung von Gefügephasen und lokalen Bereichen. REM/EDX-Untersuchungen sind ein zentrales Werkzeug in der Schadensanalyse und Werkstoffcharakterisierung.
REM- und EDX-Analysen werden eingesetzt für:
Die Proben werden im Rasterelektronenmikroskop mit einem fokussierten Elektronenstrahl abgetastet, wodurch hochauflösende Bilder der Oberfläche oder Bruchfläche entstehen.
Bei der EDX-Analyse werden die charakteristischen Röntgensignale ausgewertet, die beim Elektronenbeschuss entstehen. Dadurch kann die lokale Elementzusammensetzung punktuell oder flächig bestimmt werden.
Folgende Nachweise und Analysen können erstellt werden:
Die Ergebnisse werden in einem detaillierten Bild- und Analysebericht dokumentiert.
Wir untersuchen unter anderem:
Wir untersuchen unter anderem:
