Rasterelektronenmikroskopie (REM) und EDX Messungen

REM: Verfahren zur Abbildung von Oberflächen und Bruchflächen von Feststoffen in hoher Auflösung mit Vergrößerungen bis zu 10‘000 fach.

EDX: Verfahren zur Mikro-Elementanalyse von Feststoffen, ermöglicht die Ermittlung der qualitativen und quantitativen Elementzusammensetzung von Gefügephasen.

Die REM/EDX Untersuchung leistet grosse Dienste in der detaillierten Analyse von Bruchoberflächen im Rahmen der Schadensanalyse.